當前位置:首頁產品中心光學測量儀器精密定位/光學平臺
product
光學測量儀器
400-828-1550
article
M2量系統主要特性
自動校準太赫茲(THz)功率計介紹
ASE光源產品介紹
【資訊】IBM量子計算-噪聲 | Nature Computational Science
雙光梳光譜技術(DCS)技術研究進展
單模As-Se紅外玻璃光纖的制備及其性能研究
筱曉光子_六維測量分析系統 六維測量分析系統ELWIMAT 6000是一款純光學的精密測量設備,能夠記錄6自由度。只需設置一次,即可同時記錄位置、傾斜角、滾動角和平移度(直線度)。通過這種方式,就能實現在最短的測量時間內精確確定測量數據。這也解釋了調試和校準成本低的原因。
服務熱線:18602170419